ディスプレイポート
ディスプレイポートコネクタ
●製品仕様
| 現在の評価: | 0.5A | ||||||||
| 定格電圧： | AC40V | ||||||||
| 接触抵抗: | コンタクト：30mΩ以下 シェル：50mΩ以下 | ||||||||
| 動作温度: | -20℃～+85℃ | ||||||||
| 絶縁抵抗: | 100MΩ | ||||||||
| 耐電圧 | AC500V/60S | ||||||||
| 最高処理温度: | 260℃ 10秒 | ||||||||
| 接触材質: | 銅合金 | ||||||||
| ハウジング材質: | 高温熱可塑性プラスチック.UL 94V-0 | ||||||||
●寸法図
● 範囲
この製品仕様では、ピッチ 1.0mm ディスプレイ ポート コネクタ シリーズ製品の機械的、電気的、環境的性能要件とテスト方法について説明します。
● 設計、構造、材料：
コネクタは、該当する販売図面に指定された設計、構造、物理的寸法、および材質のものでなければなりません。
● パフォーマンスとテストの説明：
3.1 性能要件：コネクタは、第 5 項で指定された電気的、機械的、および環境的性能要件を満たすように設計されなければなりません。
3.2 定格電圧: 40V AC
3.3 定格電流: 0.5A
3.4 動作温度範囲: -20℃ ～ +85℃
● テスト要件と手順
| テスト項目 | 試験条件 | 要件 |
| 外観 | 外観検査 | 製品図面の要件を満たします。物理的な損傷はありません。 |
| 電気的性能 | ||
| 低レベル接触抵抗 | 嵌合コネクタ、コンタクト: ドライ回路で測定、最大 20mV、10mA (EIA-364-23) シェル: オープン回路で測定、最大 5V、100mA。 | 接点: 30mΩ最大。 シェル：50mΩ以下 |
| 耐電圧 | 嵌合されていないコネクタは、隣接する端子またはアース間に 500V AC (RMS.) を 1 分間印加します。コネクタを嵌合し、隣接する端子またはアース間に AC300V(RMS.)を 1 分間印加します。(EIA-364-20) | 故障なし |
| 絶縁抵抗 | 嵌合されていないコネクタは、隣接する端子またはアース間に 500V DC を印加します。嵌合したコネクタは、隣接する端子またはアース間に 150V DC を印加します。(EIA-364-21) | 100MΩ以上(非嵌合)、 10MΩ以上(嵌合時) |
| 接点電流定格 | 55℃以下周囲温度、85℃以下温度変化。(EIA-364-70、TP-70) | 最小0.5A |
| 印加電圧定格 | シールドに対する任意の信号ピンで連続最大 40V AC(RMS.)。 | 故障なし |
| 静電放電 | 8mm ボールプローブを使用して、嵌合されていないコネクタを 1kVolt から 8kVolts まで 1kVolt ステップでテストします。(IEC61000-4-2) | 8kボルトでは接点への放電の証拠なし。 |
| 減衰 | 300KHz～825MHz：-8db 828MHz～2.475GHz：-21db 2.475GHz～4.125GHz：-30db HDMI コンプライアンス テスト 仕様 テスト ID 5-7 | ＜-8db（300KHz～825MHz） ＜-21db（828MHz～2.475GHz） ＜-30db（2.475GHz～4.125GHz） |
| TMDS信号の時間領域インピーダンス | コネクタエリア: タイプA:100Ω+-10% 遷移領域: 100Ω+-10% ケーブル面積:100Ω+-5% | 100Ω +/- 10% |
| 放電なし @8KV 空気中 @4KV 接触 | 放電なし @8KV 空気中 @4KV 接触 | 退院の証拠なし |
| 機械的性能 | ||
| 挿入力・抜去力 | 毎分 25±3mm の速度でコネクタを挿入および引き抜きます (EIA-364-13) | 挿入力：最大44.1N。引抜力: 9.8~39.2N; |
| ラッチ強度 | コネクタを嵌合し、ラッチが外れるか破損するまで、13mm/分の速度で軸方向に軸方向の引き抜き力を加えます。(EIA-364-98) | 引張力：49.0N以上両方のコネクタに損傷はありません。 |
| 端子引抜力 | 毎分25±3mmの速度でハウジングに組み付けられる | 2.94N以上 |
| 耐久性 | 以下の後に接触抵抗とシェル抵抗を測定します。自動サイクリング: 100±50 サイクル/時間で 10000 サイクル (EIA-364-09) | 接触抵抗: 接点：初期値からの変更 = 30mΩ Max.シェル：初期値＝50mΩからの変更 Max. |
| 振動 | 振幅: 1.52mm PP または 147m/s2｛15G｝ 掃引時間: 50-2000-50 Hz で 20 分。持続時間：X、Y、Z軸各12回（計36回）。電気負荷：試験中はDC100mAの電流を流します。(EIA-364-28 条件 III 方法 5A) | 接触抵抗: 接触: 初期値からの変化 = 30mΩ Max.;シェル：初期値＝50mΩからの変更 Max. |
| 環境パフォーマンス | ||
| 熱衝撃 | 10 サイクル: a) -55℃、30 分間。b)+85℃で30分間。(EIA-364-32、条件 I) | 接触抵抗: 接点：初期値からの変更 = 30mΩ Max.シェル：初期値＝50mΩからの変更 Max. |
| 低温 | 物理的な損傷や電気的な異常がないこと
気温：-25度 所要時間 : 250時間 | 物理的な損傷はありません。接触抵抗: 接触: 初期値からの変化 = 30mΩ Max.;シェル：初期値＝50mΩからの変更 Max. |
| 塩水噴霧 | 嵌合したコネクタを 35+/-20C、5+/-1% の塩分環境に 48 時間放置します。試験後、サンプルを水ですすぎ、室温に 1 時間戻します。(EIA-364-26B) | 接触領域および露出したベースメタルに有害な腐食は許可されません。 |
| 湿度 | (A) コネクタを嵌合し、次のようにテストを実行します。 温度: +25 ～ +85℃。相対湿度: 80 ～ 95%。期間: 4 サイクル (96 時間)。試験の完了後、試験片は周囲の室内条件で 24 時間調整し、その後、指定された測定を実行する必要があります (EIA-364-31)。 | 損傷なし。接触抵抗: 接触: 初期値からの変化 = 30mΩ Max.;シェル：初期値＝50mΩからの変更 Max. |
| (B) コネクタを嵌合せずに、次のようにテストを実行します。 温度: +25 ～ +85℃。相対湿度: 80 ～ 95%。期間: 4 サイクル (96 時間)。試験の完了後、試験片は周囲の室内条件で 24 時間調整し、その後、指定された測定を実行する必要があります (EIA-364-31)。 | 損傷なし。耐電圧および絶縁抵抗の項目に適合 | |
| 熱老化 | コネクタを嵌合し、+105±20℃に 250 時間暴露します。曝露期間が完了したら、試験片を周囲室内条件で 1 ～ 2 時間コンディショニングし、その後、指定された測定を実行する必要があります。(EIA-364-17、条件4、方法A) | 損傷なし。接触抵抗: 接触: 初期値からの変化 = 30mΩ Max.;シェル：初期値＝50mΩからの変更 Max. |
| はんだ付け性 | はんだテールを溶融はんだ（245±3℃に保持）にハウジング底部から1.2mmまで3～5秒浸します。 | 浸漬領域の 95% にボイドやピンホールがあってはなりません |
| はんだ付け熱に対する耐性 | はんだ付け方法を参照してください。第 5 項に指定された条件は 2 回繰り返されるものとします。 | ダメージなし |
● 推奨赤外線リフロー条件：
温度条件グラフ
● テストシーケンス
| アイテム | テストグループ | |||||||||
| G1 | G2 | G3 | G4 | G5 | G6 | G7 | G8 | G9 | G10 | |
| 外観 | 1,4 | 1、5、9 | 1、5、8 | 1,3 |
| 1 | 1,4 | 1,4 | 1,4 | 1,4 |
| 低レベル接触抵抗 | 2,5 | 2、6、10 | 6,9 |
|
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| 2,5 | 2,5 |
| 2,5 |
| 耐電圧 |
|
| 2 |
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|
| 絶縁抵抗 |
|
| 3 |
|
|
|
|
|
|
|
| 接点電流定格 |
|
|
| 2 |
|
|
|
|
|
|
| 印加電圧定格 |
|
|
| 4 |
|
|
|
|
|
|
| 静電放電 |
|
|
|
|
| 4 |
|
|
|
|
| TMDS 信号の時間領域インピーダンス |
|
|
|
|
| 2 |
|
|
|
|
| 減衰 |
|
|
|
|
| 3 |
|
|
|
|
| 挿入力・抜去力（ラッチなし） |
| 3、7、11 |
|
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|
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|
|
|
| ラッチ強度 |
| (6) |
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|
|
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|
|
|
| 端子引抜力 |
|
|
|
| 1 |
|
|
|
|
|
| 耐久性 |
| 4,8 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 振動 | 3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 熱衝撃 |
|
| 4 |
|
|
|
|
|
|
|
| 低温 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 3 |
| 湿度 |
|
| 7 |
|
|
|
|
|
|
|
| 熱老化 |
|
|
|
|
|
| 3 |
|
|
|
| 塩水噴霧 |
|
|
|
|
|
|
| 3 |
|
|
| はんだ付け性 |
|
|
|
|
|
|
|
| 2 |
|
| はんだ付け熱に対する耐性 |
|
|
|
|
|
|
|
| 3 |
|
| サンプル数 (SETS) | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 |
|
注: 数字はテストが実行される順序を示します。
